SUNX電子計(jì)數(shù)器

產(chǎn)品型號(hào)： GXL-15FLUB-C5

所屬分類(lèi)：日本SUNX神視

更新時(shí)間：2024-08-11

簡(jiǎn)要描述：SUNX電子計(jì)數(shù)器GXL-15FLUB-C5
檢測(cè)線圈內(nèi)使其產(chǎn)生交流磁場(chǎng)，并檢測(cè)體的金屬體產(chǎn)生的
渦電流引起的阻抗變化進(jìn)行檢測(cè)的方式。此外
小型·可調(diào)節(jié)檢測(cè)距離的反射型光電傳感器 CX-440系列

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SUNX電子計(jì)數(shù)器GXL-15FLUB-C5
螺紋頭小型光電傳感器 EX-30系列
限定反射型光電傳感器 EX-40系列
SUNX光電傳感器小型光電傳感器 CX-400系列
響對(duì)檢測(cè)對(duì)象的物理性質(zhì)變化進(jìn)行檢測(cè)，所以幾乎
與接觸式不同，會(huì)受周?chē)鷾囟鹊挠绊?、周?chē)矬w
同類(lèi)傳感器的影響包括感應(yīng)型、靜電容量型在
傳感器之間相互影響。因此，對(duì)于傳感器的設(shè)
需要考慮相互干擾。此外，在感應(yīng)型中，需要考慮周?chē)?br />金屬的影響，而在靜電容量型中則需考慮周?chē)矬w的影響。
and the metal body produced by the sample
Impedance change caused by the eddy current detecting
包括利用電磁感應(yīng)引起的檢測(cè)對(duì)象的金屬體中產(chǎn)生的渦電流
 

SUNX電子計(jì)數(shù)器GXL-15FLUB-C5
的方式、捕測(cè)體的接近引起的電氣信號(hào)的容量變化的方式
利石和引導(dǎo)開(kāi)關(guān)的方式。在JIS規(guī)格中，根據(jù)IEC60947-5-2
的非接觸式位置檢測(cè)用開(kāi)關(guān)，制定了JIS規(guī)格（JISC8201-5-2
低壓開(kāi)關(guān)裝置及控制裝置、5控制電路機(jī)器及開(kāi)關(guān)元件、
2節(jié)接近開(kāi)關(guān)）。在JIS的定義中，在SUNX神視傳感器中
薄型光電傳感器 EX-10系列
日本神視SUNX光電傳感器小型光電傳感器 EX-20系列
也能以非接觸方式檢測(cè)到物體的接近和附近檢測(cè)對(duì)象有無(wú)的產(chǎn)品總稱(chēng)
SUNX神視傳感器感應(yīng)型接傳感器的檢測(cè)原理通過(guò)外部磁場(chǎng)
Impact detection on the conductor surface due t
 the eddy current generated magnetic loss. in
To produce the AC magnetic field detecting coil,
影響，檢測(cè)在導(dǎo)體表面產(chǎn)生的渦電流引起的磁性損耗。在
SUNX電子計(jì)數(shù)器GXL-15FLUB-C5